Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Livros - Springer London Ltd - 9781447160687 - 22 de fevereiro de 2014
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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

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This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


218 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 22 de fevereiro de 2014
ISBN13 9781447160687
Editoras Springer London Ltd
Páginas 218
Dimensões 155 × 235 × 15 mm   ·   317 g
Idioma Inglês  

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