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Investigation of Gate Current in Neutron Irradiated Alxga1-Xn / Gan Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence Thomas E Gray
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Investigation of Gate Current in Neutron Irradiated Alxga1-Xn / Gan Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
Thomas E Gray
128 pages, Illustrations, black and white
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 16 de novembro de 2012 |
| ISBN13 | 9781288308347 |
| Editoras | Biblioscholar |
| Páginas | 128 |
| Dimensões | 189 × 246 × 7 mm · 185 g |
