Reliability and Degradation of Iii-v Opt - Osamu Ueda - Livros - Artech House Publishers - 9780890066522 - 30 de setembro de 1996
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Osamu Ueda
Reliability and Degradation of Iii-v Opt

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Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems.

372 pages, 1, black & white illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 30 de setembro de 1996
ISBN13 9780890066522
Editoras Artech House Publishers
Páginas 372
Dimensões 156 × 234 × 22 mm   ·   648 g
Idioma Inglês  

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