Microelectronic Reliability: Integrity a - Emiliano Pollino - Livros - Artech House Publishers - 9780890063507 - 1 de abril de 1989
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Emiliano Pollino
Microelectronic Reliability: Integrity a

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A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

556 pages, 1, black & white illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 1 de abril de 1989
ISBN13 9780890063507
Editoras Artech House Publishers
Páginas 556
Dimensões 161 × 235 × 41 mm   ·   1,09 kg
Editor Pollino, Emiliano

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