Microelectronic Reliability Vol. I: Test - Edward B. Hakim - Livros - Artech House Publishers - 9780890062845 - 31 de janeiro de 1989
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Edward B. Hakim
Microelectronic Reliability Vol. I: Test

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Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought

396 pages, 1, black & white illustrations

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de janeiro de 1989
ISBN13 9780890062845
Editoras Artech House Publishers
Páginas 396
Dimensões 161 × 238 × 30 mm   ·   771 g
Editor Hakim, Edward B.

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