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Speckle Metrology - Optical Science and Engineering Sirohi 1º edição
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R$ 3.869,90
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Speckle Metrology - Optical Science and Engineering
Sirohi
Covers speckle metrology and its value as a measuring technique in industry. This book also surveys the origin of speckle displacement and decorrelation, presents procedures for deformation analysis and shape measurement of rough objects, and explains particle image velocimetry (PIV).
568 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 20 de maio de 1993 |
| ISBN13 | 9780824789329 |
| Editoras | Taylor & Francis Inc |
| Páginas | 572 |
| Dimensões | 150 × 220 × 20 mm · 861 g |
| Idioma | Inglês |
| Editor de séries | Thompson, Brian J. (University of Rochester, New York, USA) |
