Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Carlos H. Diaz - Livros - Kluwer Academic Publishers - 9780792395058 - 30 de novembro de 1994
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Carlos H. Diaz
Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1994 edition

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Electrical overstress (EOS) and Electrostatic discharge (ESD) pose as one of the threats to integrated circuits (ICs). This book analyzes the EOS/ESD-related failures in I/O protection devices in integrated circuits. This book is intended for VLSI designers, reliability engineers and those working on the development of EOS/ESD analysis tools.

148 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 30 de novembro de 1994
ISBN13 9780792395058
Editoras Kluwer Academic Publishers
Páginas 148
Dimensões 156 × 234 × 11 mm   ·   394 g
Idioma Inglês  

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