Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Livros - Springer - 9780792393528 - 30 de junho de 1993
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Yusuf Leblebici
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

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The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits.

229 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 30 de junho de 1993
ISBN13 9780792393528
Editoras Springer
Páginas 212
Dimensões 155 × 235 × 14 mm   ·   508 g
Idioma Inglês  

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