Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Jose Pineda de Gyvez - Livros - Springer - 9780792393061 - 31 de dezembro de 1992
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Jose Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

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The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

167 pages, 48 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de dezembro de 1992
ISBN13 9780792393061
Editoras Springer
Páginas 167
Dimensões 155 × 235 × 12 mm   ·   453 g
Idioma Inglês  

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