Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Kenneth M. Butler - Livros - Springer - 9780792392224 - 31 de outubro de 1991
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Kenneth M. Butler
Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition

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For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.

132 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de outubro de 1991
ISBN13 9780792392224
Editoras Springer
Páginas 132
Dimensões 155 × 235 × 11 mm   ·   399 g
Idioma Inglês  

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