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Noise in Bipolar Junction Transistors at Cryogenic Temperatures. Thomas Wade
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Noise in Bipolar Junction Transistors at Cryogenic Temperatures.
Thomas Wade
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 8 de dezembro de 2019 |
| ISBN13 | 9780530019482 |
| Editoras | Dissertation Discovery Company |
| Páginas | 258 |
| Dimensões | 150 × 220 × 10 mm · 603 g |
| Idioma | Inglês |
