Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications - Nan Yao - Livros - Cambridge University Press - 9780521831994 - 13 de setembro de 2007
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Nan Yao
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

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This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.

408 pages, 196 b/w illus.

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 13 de setembro de 2007
ISBN13 9780521831994
Editoras Cambridge University Press
Páginas 408
Dimensões 252 × 180 × 29 mm   ·   862 g
Idioma Inglês  
Editor Yao, Nan (Princeton University, New Jersey)

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