Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution - Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island) - Livros - Cambridge University Press - 9780521529778 - 11 de dezembro de 2008
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Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island)
Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution

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Thin film mechanical behavior and stress presents a technological challenge for materials scientists, physicists and engineers. Describing fundamental concepts with practical case studies, highly illustrated, thorough referencing and containing numerous homework problems, this book will be essential for graduate courses on thin films and the classic reference for researchers.

770 pages, 75 b/w illus. 75 exercises

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 11 de dezembro de 2008
ISBN13 9780521529778
Editoras Cambridge University Press
Páginas 770
Dimensões 175 × 247 × 35 mm   ·   1,38 kg
Idioma Inglês  

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