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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.) 2º edição
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R$ 1.592,90
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.)
In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed.
358 pages, Illustrations
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 23 de julho de 1997 |
| ISBN13 | 9780471954828 |
| Editoras | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 360 |
| Dimensões | 156 × 233 × 25 mm · 616 g |
| Idioma | Inglês |
