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Semiconductor Material and Device Characterization - IEEE Press Schroder, Dieter K. (Arizona State University) 3º edição
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R$ 1.432,90
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Semiconductor Material and Device Characterization - IEEE Press
Schroder, Dieter K. (Arizona State University)
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.
800 pages, illustrations
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 17 de fevereiro de 2006 |
| ISBN13 | 9780471739067 |
| Editoras | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 800 |
| Dimensões | 243 × 164 × 51 mm · 1,32 kg |
| Idioma | Inglês |
