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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy Chim, Wai Kin (National University of Singapore)
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Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy
Chim, Wai Kin (National University of Singapore)
Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.
288 pages, Illustrations
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 13 de dezembro de 2000 |
| ISBN13 | 9780471492405 |
| Editoras | John Wiley & Sons Inc |
| Páginas | 288 |
| Dimensões | 160 × 237 × 20 mm · 716 g |
