ESD: Failure Mechanisms and Models - Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) - Livros - John Wiley & Sons Inc - 9780470511374 - 17 de julho de 2009

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Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)
ESD: Failure Mechanisms and Models Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Name: ESD: Failure Mechanisms and Models
Price: 937.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

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ESD: Failure Mechanisms and Models

Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Provides a comprehensive analysis of ESD failure mechanisms over a wide range of semiconductor materials, devices, circuits and applications. Sets out methods for eliminating failure mechanisms through workable circuit solutions, including practical examples of failure defects.

408 pages, Illustrations

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	17 de julho de 2009
ISBN13	9780470511374
Editoras	John Wiley & Sons Inc
Páginas	408
Dimensões	253 × 176 × 29 mm · 820 g
Idioma	Inglês