Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Livros - Chapman and Hall - 9780412145612 - 31 de janeiro de 1999
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Lawrence C Wagner
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

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This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de janeiro de 1999
ISBN13 9780412145612
Editoras Chapman and Hall
Páginas 255
Dimensões 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g
Idioma Inglês  
Editor Wagner, Lawrence C.

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