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Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H Cohen 1997 edition
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2
Samuel H Cohen
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
250 pages, biography
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 30 de abril de 1997 |
| ISBN13 | 9780306455964 |
| Editoras | Springer Science+Business Media |
| Páginas | 250 |
| Dimensões | 178 × 254 × 16 mm · 680 g |
| Editor | Cohen, Samuel H. |
| Editor | Lightbody, Marcia L. |