Advances in x-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6, - John V. Gilfrich (Sachs / Freeman Associates / NRL, Washington, DC, USA) - Livros - Kluwer Academic Publishers Group - 9780306449017 - 30 de setembro de 1994
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Advances in x-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6, 1º edição

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Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 30 de setembro de 1994
ISBN13 9780306449017
Editoras Kluwer Academic Publishers Group
Páginas 778
Dimensões 264 × 184 × 47 mm   ·   1,59 kg
Idioma Inglês  
Editor C.C. Goldsmith
Editor I. Cev Noyan (IBM Research Center, Yorktown Heights, NY, USA)
Editor Ron Jenkins (International Centre for Diffraction Data, Newton Square, Pennsylvania, USA)
Editor Ting C. Huang (IBM Almaden Research Center, San Jose, CA, USA)

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