Defect and Microstructure Analysis by Diffraction - International Union of Crystallography Monographs on Crystallography - Robert L. Snyder - Livros - Oxford University Press - 9780198501893 - 6 de janeiro de 2000
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Defect and Microstructure Analysis by Diffraction - International Union of Crystallography Monographs on Crystallography

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Examines the state of the art for determining the "real" structure of matter. This book provides an analysis of the fundamental theory and techniques for microstructure analysis from diffraction patterns. It presents the principal characterization technique permitting us to measure the defect solid state: X-ray diffraction.


808 pages, numerous line figures

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 6 de janeiro de 2000
ISBN13 9780198501893
Editoras Oxford University Press
Páginas 808
Dimensões 164 × 238 × 49 mm   ·   1,29 kg
Idioma Inglês  
Editor Bunge, Hans J (Department of Physical Metallurgy, Department of Physical Metallurgy, Technical University of Clausthal, Germany)
Editor Fiala, Jaroslav (Department of Metallurgy, Department of Metallurgy, Central Research Institute Skoda, Czech Republic)
Editor Snyder, Robert (, Department of Materials Science and Engineering, Columbus, USA)

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